菲希爾FMP40測厚儀測量誤差和重復(fù)精度
| 更新時間： | 2024-09-24 |
| 報(bào) 價： |  |
菲希爾FMP40測厚儀測量誤差和重復(fù)精度自動識別底材DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀能夠通過外部觸發(fā)測量（例如：測量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁）使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)（僅限于磁感應(yīng)法） 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀配備 USB接口可以連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)膜厚儀能夠手動糾正已儲存的讀數(shù)膜厚儀包含應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個應(yīng)用程式能使用相同的歸
菲希爾FMP40測厚儀測量誤差和重復(fù)精度的詳細(xì)資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 |
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菲希爾FMP40測厚儀測量誤差和重復(fù)精度
- 自動識別底材
- DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀能夠通過外部觸發(fā)測量（例如：測量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁）
- 使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)（僅限于磁感應(yīng)法）
- 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀配備 USB接口可以連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)
- 膜厚儀能夠手動糾正已儲存的讀數(shù)
- 膜厚儀包含應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個應(yīng)用程式能使用相同的歸一化/校準(zhǔn)信息
- 通過電腦計(jì)算機(jī)可以編輯應(yīng)用程式名稱（可選件：MP-Name軟件）
- 擁有數(shù)據(jù)組統(tǒng)計(jì)值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)值
- 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀能夠展現(xiàn)測量數(shù)據(jù)直方圖顯示
菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀電渦流方法：
通過探頭的激勵電流產(chǎn)生一個高頻初級磁場區(qū)域，該磁場在基材內(nèi)產(chǎn)生感生電渦流，次級磁場區(qū)域削弱初級磁場區(qū)域，削弱影響相當(dāng)于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過儲存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將削弱影響轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度值顯示出來。
測量原理 | 磁性測厚法，能快速、無損傷、精頦地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量 | 電渦流法測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 |
探頭型號 | FGA1.3磁感應(yīng)探頭 | FTA3.3H電渦流探頭 |
測量范圍μm | 0 ～ 1500μｍ，測量精度： 0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～1000μｍ，± 0.5 ％； 1000～1500μｍ， < 2.5%。 | 0 ～ 1 200μｍ。測量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～800μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5% |
重量g | 230 | 230 |
規(guī)格 | (160 x 80 30) | (160 x 80 x 30) |
儀器主要技術(shù)參數(shù)：
設(shè)備型號 | DUALSCOPE FMP100 |
選配探頭 | 雙功能探頭Probe FD10： 用于根據(jù)磁感應(yīng)和渦流方法來測量涂鍍層厚度，帶微處理芯片的智慧型插入式探頭，彈性測量系統(tǒng)。 電纜長度：1.5m（5 feet） |
分辨率 | 0.1um |
測量應(yīng)用及測量范圍 | 0-1300um NF/Fe 0-800um ISO/NF |
測量方法 | 磁感應(yīng)/渦流法 自動識別 |
測量誤差 以Fischer標(biāo)準(zhǔn)片為準(zhǔn) | NF/Fe 0-50um：≤0.5um 50-1300um：≤1% ISO/NF 0-100um：≤0.5um 100-800um：≤1% |
重復(fù)精度 以Fischer標(biāo)準(zhǔn)片為準(zhǔn) | 0-100um：≤0.25um 100-1300um：≤0.5% |
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