Fischer Couloscope CMS2測厚儀介紹的詳細(xì)資料：

Fischer Couloscope CMS2測厚儀介紹

Fischer Couloscope CMS2測厚儀介紹

典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 該儀器幾乎可以測量金屬或非金屬基材上的任何一種金屬鍍層。 甚至可以測量多層鍍層.

• 測量幾乎所有金屬鍍層厚度，無論基材是金屬或非金屬，鍍層也可以是多鍍層。典型的可測量厚度范圍 0.05 – 40 μm。 也適用于線材上鍍層的測量

          標(biāo)準(zhǔn)：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504

          大屏幕點(diǎn)陣液晶顯示屏，可顯示文字與圖形：126 * 70 mm  
          可設(shè)置和儲(chǔ)存：50個(gè)應(yīng)用程式、600個(gè)數(shù)據(jù)組；3 000個(gè)數(shù)據(jù)
          統(tǒng)計(jì)：平均值、最大值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、測量次數(shù)、Cp、Cpk 和直方圖
          使用多層菜單和軟鍵，使操作更方便
          RS232 接口可通過電纜和傳輸軟件將數(shù)據(jù)傳到 PC
          模擬輸出： 0 ～ -18V
          輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
          工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
          儀器重量： 6 kg
          電源： AC 220 V ，50-60 Hz；最大功耗 ≤ 85 VA
          尺寸： 350W * 140H * 200D  mm

特點(diǎn)

• 庫侖析法電解鍍層，符合 DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn)

• V18測量臺(tái)通過控制氣泵具有自動(dòng)充填和清空測量槽中電解液功能

• 大幅液晶顯示屏便于操作和顯示測量結(jié)果

介紹：
Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 （庫侖測量系統(tǒng)）使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個(gè)大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測試方法的場合。
Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 地測量范圍在0.05 - 40 µm （0.002 - 1.6 mils）之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲(chǔ)上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。

      電解測厚儀又叫做庫侖法測厚儀，應(yīng)用于電鍍層的測厚。電解測厚儀可以解決裝飾鉻層測厚、鎳層測厚、銅層測厚、鋅層測厚、錫層測厚、銀層測厚、金層測厚、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳等鍍層測厚問題。電解測厚儀具有測試多層復(fù)合測量模式等特點(diǎn)，適用于汽車摩托車、航空航天、自行車、電器、日用五金、潔具衛(wèi)浴、塑膠電鍍、釹-鐵-硼、標(biāo)準(zhǔn)件等行業(yè)及技術(shù)監(jiān)督部門及科研機(jī)構(gòu)。