菲希爾Dualscope MP0測厚儀測量要求的詳細資料：

Fischer菲希爾MP0測厚儀膜厚儀德國原產(chǎn)

德國FISCHER菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀是一款為快速且簡便測量而設(shè)計的涂層測厚儀。德國FISCHER菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀這是一款經(jīng)濟型的涂層測厚儀。德國FISCHER菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀可以準確地和方便地在2個液晶顯示器上顯示鍍層、涂層厚度的讀數(shù)：
   FISCHER菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀擁有一塊大的顯示屏位于前部面板，另一塊位于上部面板。德國FISCHER菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀*的符合人類工程學設(shè)計的集成于儀器的恒壓測量探頭允許方便地單手操作。

德國FISCHER菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀可以進行測量數(shù)據(jù)統(tǒng)計評估以及在10-20 m（33-66 feet）的距離范圍內(nèi)將測量數(shù)據(jù)在線或離線的無線傳輸至計算機的內(nèi)置無線電發(fā)射器。
   德國FISCHER菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀符合標準GB/T4956和GB/T4957，德國FISCHER菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗及質(zhì)量監(jiān)督檢驗。

德國FISCHER菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀內(nèi)置式探頭，自動識別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應的測量方式進行測量。
   德國FISCHER菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀符合人體工程學設(shè)計的雙顯示屏結(jié)構(gòu)，可以在任何測量位置讀取測量數(shù)據(jù)。
   采用手機菜單式功能選擇方式，操作十分簡便?？稍O(shè)定上下限值，測量結(jié)果超出或符合上下限數(shù)值時，德國FISCHER菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀會發(fā)出相應的聲音或閃爍燈提示。穩(wěn)定性*，通常不必校正便可長期使用。

菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀應用
   由德國生產(chǎn)，該MP0測厚儀集合了磁性測厚儀和渦流測厚儀兩種儀器的功能，可用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。Fischer 的進口測厚儀產(chǎn)品線涵蓋了測量和分析儀器，廣泛應用于各個工業(yè)領(lǐng)域。

測量時使用合適的測量方法，可以獲得準確的測量結(jié)果以及*的重復精度。例如：鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度。銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度。各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。
   標準配置：主機1臺，MO0鐵基體1塊，MP0鋁基體1塊，MP0標準箔片1片
   測試對象
   能夠測量非鐵金屬鍍層、涂層（例如：鉻層，銅層，鋅層等）在鐵或鋼上（鍍鋅板測厚）。
   測量油漆、臘克和合成涂層在鐵或鋼上。 （例如:漆膜測厚,鍍層測厚,覆層測厚,保溫材料測厚）
   測量非導電涂層在非鐵金屬基材上，例如：油漆涂層、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上。
   特點：

采用雙功能內(nèi)置式探頭，自動識別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應的測量方式進行測量。
儀符合人體工程學設(shè)計的雙顯示屏結(jié)構(gòu)，可以在任何測量位置讀取測量數(shù)據(jù)。
采用手機菜單式功能選擇方式，操作十分簡便。
可設(shè)定上下限值，測量結(jié)果超出或符合上下限數(shù)值時，儀器會發(fā)出相應的聲音或閃爍燈提示。
穩(wěn)定性*，通常不必校正便可長期使用。
測量的厚度包括：
德國FISCHER菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀利用符合DIN EN ISO 2360標準的電過流感應方法，德國FISCHER菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀可測量油漆、光油、纖維或氧化膜涂層在非磁性金屬材料上的厚度，如鋁、銅、黃銅及不銹鋼等。
利用符合DIN EN ISO 2178標準的電磁場感應方法，可測量鋅、鉻、銅、油漆、光油、纖維等涂鍍層在鋼和鐵的材料上的厚度。能夠自動辨認金屬底材料而選擇合適的測量方法。

儀器型號：
 PERMASCOPE MP0涂層測厚儀膜厚儀用于測量非鐵磁性金屬涂層，例如鉻、銅、鋅，以及測量鋼鐵上的涂料、油漆、瓷漆或塑料涂層（采用磁感應法，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 標準） 該設(shè)備特別適用于對較薄的涂層進行測量。
 DUALSCOPE MP0涂層測厚儀膜厚儀基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結(jié)合（磁感應/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準），此通用型設(shè)備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量。