新聞中心首頁 > 新聞中心 > 全部新聞
測厚儀的工作流程
點擊次數(shù)：1809 更新時間：2018-03-28 返回
測厚儀的工作流程
測厚儀通過對薄膜材料的波浪邊、塌邊幅度進行測量，以幫助用戶了解薄膜來料張力是否一致，滿足涂布或使用要求。測厚儀采用激光測量位移差的方式，測量薄膜在一定張力下的表面平整度，并根據(jù)設(shè)定規(guī)則自動識別壞品，張力測量模塊由一個激光位移傳感器、驅(qū)動機構(gòu)組成。
測厚儀通過可調(diào)張力張緊薄膜被測物 后，驅(qū)動機構(gòu)帶動位移傳感器橫向來回掃描，得到膜片橫向的高度差，根據(jù)轉(zhuǎn)換關(guān)系轉(zhuǎn)換成張力均勻性差異。測厚儀采用的高性能、低功耗微處理器技術(shù)，基于超聲波測量原理，可以測量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對材料的聲速進行測量，可以對生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進行厚度測量，監(jiān)測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度，也可以對各種板材和各種加工零件作測量。
測厚儀可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領(lǐng)域，對厚度的測量，是由探頭產(chǎn)生超聲波脈沖透過耦合劑到達被測體，一部分超聲信號被物體底面反射，探頭接收由被測體底面反射的回波，地計算超聲波的往返時間，并按下式計算厚度值，再將計算結(jié)果顯示出來。測厚儀適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度；可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用。
測厚儀具有探頭零點校準、兩點校準功能，可對系統(tǒng)誤差進行自動修正；已知厚度可以反測聲速，以提高測量精度；具有耦合狀態(tài)提示功能； 標準速率每秒鐘4次，快速率：每秒20次，自動識別主機說明書上探頭類型列表中的探頭；測厚儀調(diào)整內(nèi)部參數(shù)，并修正V聲程錯誤；補償探頭溫度和零位偏移；顯示保持/空白模式，顯示測量讀數(shù)后，屏幕上保持讀數(shù)或顯示空白。
